news
近期受晶圓廠委托， 季豐在執(zhí)行完SRAM芯片在中子輻射下SER測試后， 通過對SRAM芯片的深入研究，對測試失效數(shù)據(jù)的分析，將邏輯失效地址成功轉(zhuǎn)換為物理坐標(biāo)地址，最終在圖像上顯示失效位置，幫助客戶直觀
地址：聯(lián)系地址聯(lián)系地址聯(lián)系地址
電話：020-123456789
傳真：020-123456789關(guān)于我們
新聞資訊
產(chǎn)品中心
解決方案
支持服務(wù)
投資者關(guān)系
加入我們
新聞資訊
當(dāng)前位置：
